不同視角 SEM 表征與數據分析—飛納電鏡 MAPS 開(kāi)啟科學(xué)新視界

飛納電鏡持續創(chuàng )新  系列一

01

“你這個(gè)位置是哪里拍的？其他位置什么情況？整個(gè)樣品上裂紋的走勢是什么樣的？”

作為失效工程師，收到老板或同事的靈魂拷問(wèn)，是不是常常讓你頭疼？

02

“你這個(gè)太局部了，不具有代表性，其他位置什么情況？”

明明是供應商產(chǎn)品的問(wèn)題，但強勢的甲方的詭辯總讓你無(wú)奈不已？

03

“小張，我要整個(gè)組織切片的全貌，請確保拍下來(lái)。”

導師的要求太天真，臣妾做不到？

別擔心，飛納電鏡 MAPS 系統幫你解決這些問(wèn)題！

2024 年，飛納發(fā)布數據采集及閱讀系統 Phenom MAPS。該系統不僅改變了數據存儲的方式，還為 SEM 表征與數據分析開(kāi)啟了“上帝視角”，幫您輕松掌握每一個(gè)細節，不再需要費力解釋。

今天，我們來(lái)詳細了解一下這款為科學(xué)家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統。

No。1 ：多圖層數據采集及閱讀系統

“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統會(huì )像地圖一樣，通過(guò)層級的方式，實(shí)現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵蓋所有樣品信息的數碼存檔，從全面（宏觀(guān)）到具體（微觀(guān)）無(wú)所不包，改變了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且，多圖層數據可以包含能譜。

No.2 ：大面積成像拼接，wan全無(wú)痕！

大面積成像拼接，萬(wàn)全無(wú)痕

No.3：大面積能譜分析，地質(zhì)行業(yè)zui愛(ài)！

這里是一個(gè)地質(zhì)樣品的能譜拼圖結果，Phenom MAPS 可以實(shí)現對整個(gè)樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數據，以方便進(jìn)行離線(xiàn)分析。

No.4 ：CISA，關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例：通過(guò) MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過(guò)結合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

總結

飛納電鏡 MAPS 系統不僅是一個(gè)自動(dòng)化的圖像、能譜采集工具，更是一個(gè)數碼存檔和關(guān)聯(lián)數據分析平臺。通過(guò)地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數據采集及關(guān)聯(lián)系統，為您提供多模態(tài)的“上帝視角”，全面掌握顯微鏡數據，不再錯過(guò)任何細節。

“

下期預告

新品發(fā)布會(huì )直播預告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò )會(huì )議，重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應用案例！

iCEM 2024

“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò )會(huì )議（iCEM 2024）”結合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應用熱點(diǎn)，邀請業(yè)界電子顯微學(xué)專(zhuān)家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專(zhuān)家、電子顯微學(xué)應用專(zhuān)家等，重點(diǎn)邀請近來(lái)有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線(xiàn)上分享精彩報告。

復納科學(xué)儀器（上海）有限公司應用專(zhuān)家張傳杰將帶來(lái)主題【新品發(fā)布：飛納臺式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時(shí)間：6 月 26 日 10:30-11:00，歡迎大家報名預約觀(guān)看。