結合飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統，以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析，代表著(zhù)微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能，為用戶(hù)檢驗、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng )造了一個(gè)強大工具。

Phenom Particle Metric顆粒測試以較快、較簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析，是微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能，為用戶(hù)提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。