Phenom Particle Metric顆粒測試

Phenom Particle Metric顆粒測試

Phenom World BV 顆粒測試系統Phenom Particle Metric

—— 研究顆粒和粉末的強大工具

ParticleMetric顆粒測試系統，以快、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析，是微觀(guān)顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步?？焖?、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統的顆粒圖像分析功能，為用戶(hù)提供了分析顆粒和粉末試樣的強大工具。

基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶(hù)根據需要，隨時(shí)獲取所觀(guān)測顆粒的面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(cháng)、寬高比、充實(shí)度、伸長(cháng)率、灰度等級、長(cháng)軸、短軸長(cháng)度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數、凸狀物等數據，終實(shí)現ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。

Phenom Particle Metric顆粒測試的功能

1.     可進(jìn)行以下顆粒分析

l  顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm

l  顆粒探測速度：高達1000個(gè)/分鐘

l  顆粒測量屬性：大小、形狀、數量

2.     可以測量的顆粒參數

l  面積、當量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長(cháng)、寬高比

l  充實(shí)度、伸長(cháng)率、灰度等級、長(cháng)軸長(cháng)度和短軸長(cháng)度（橢圓）

l  凸殼體、重心、像素點(diǎn)數、凸狀物。

3.     可以提供的圖形顯示

l  按數量或體積的線(xiàn)性、對數、雙對數點(diǎn)狀圖

l  任何參數的散點(diǎn)圖

l  單個(gè)顆粒的SEM圖像

4.     可以提供的圖形輸出

l  Word版本docx格式的報告，TIFF格式的圖像

l  CSV文件，離線(xiàn)分析的項目文件（.PAME）Pro Suite的一部分

飛納掃描電鏡顆粒系統ParticleMetric軟件的優(yōu)勢

1.      加載ParticleMetric軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶(hù)采集超細顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數據；

2.      全自動(dòng)的飛納掃描電鏡顆粒測試系統ParticleMetric軟件測量可以實(shí)現超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺(jué)效果，為用戶(hù)提供顆粒物的結構設計、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細節數據；

3.      ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報告的內容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性，生成數量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)趨勢。

4.     直接由Phenom獲取圖像，識別并確認諸如破損顆粒、附著(zhù)物和外來(lái)顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度

5.     便捷的操作提升了工作效率并使計劃表簡(jiǎn)單化和可視化

6.     無(wú)限制的圖像采集，可輕松存儲于網(wǎng)絡(luò )或優(yōu)盤(pán)，便于共享、交流或以后參考

7.     Phenom的易用性和對環(huán)境的良好適應力，用戶(hù)可以將試樣程度視覺(jué)化

8.     附有高清圖片的統計學(xué)數據。