掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測 電子顯微鏡

使用飛納臺式掃描電鏡的顆粒統計分析測量系統，以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現顆粒的可視化分析。顆粒統計分析測量系統支持用戶(hù)收集多種亞微米顆粒的形態(tài)和尺寸數據。

超越光學(xué)顯微鏡分析，*自動(dòng)化的飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統把可視化分析提高到了一個(gè)新臺階，這將在粉末設計、開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng )新。

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導出，并生成報告。所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。

散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來(lái)，以揭示相關(guān)性和趨勢。飛納臺式掃描電鏡干粉制劑顆粒檢測系統支持用戶(hù)獲得他們需要的數據。因此，顆粒系統加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

顆粒系統規格參數

顆粒分析

• 顆粒尺寸范圍：100 nm – 0.1 mm

• 顆粒探測速度：高達 1000 個(gè)/分鐘

• 測量屬性：大小、形狀、數量

顆粒參數：面積、圓當量直徑、表面積、外切圓直徑、比表面積、周長(cháng)、縱橫比、圓度、伸長(cháng)率、灰度等級、長(cháng)軸、短

軸、凸殼體、重心 (x、y)、像素點(diǎn)數、凹凸度

圖像顯示

• 可給出線(xiàn)性、對數或雙對數坐標的數量、體積分布圖

• 任意zhi定參數的散點(diǎn)圖

• 單個(gè)顆粒的掃描電鏡（SEM）圖像

復納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場(chǎng)的推廣和銷(xiāo)售，提供專(zhuān)業(yè)的和測試服務(wù)，飛納電鏡擁有專(zhuān)業(yè)的服務(wù)團隊，提供優(yōu)化的解決方案；飛納電鏡在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納在中國已經(jīng)擁有超過(guò) 1000 名用戶(hù)。